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1、分析氟（F）到鈾（U）之間的元素；

2、元素分析濃度范圍<1ppm；

3、多元素同時測量時間10-60秒；

4、可選多種進樣器；

5、使用CCD相機進行樣品成像；

6、可調的X射線光斑直徑1- 15 mm，以便適應不同樣品大小；

7、高性能電制冷硅漂移探測器（SDD）；

8、多功能XRF應用軟件；

9、薄膜厚度測量與鍍層分析；

10、UniQuant技術，無標樣多元素同時分析技術；

11、多語言支持；

12、機械耐久性，可保證長時間無故障運行；

13、可選TRACEcom，能夠輕松與LIMS交互；

14、設計緊湊，可以輕松移動；

15、低噪音、得益于智能溫控風扇；

16、自定義和現(xiàn)場應用方法建立功能；

17、易于安裝，更易于維護。